ПЭМ - просвечивающий электронный микроскоп - тип микроскопа, в котором изображение получается с помощью пропускания через тонкий образец (обычно – не более 500 нм толщиной) пучка электронов. Исследование производится в вакууме, позволяющим увеличить длину свободного пробега электронов, поэтому не любые образцы могут быть изучены при помощи ПЭМ.

Принцип получения изображения в ПЭМ

По принципу работы просвечивающий электронный микроскоп напоминает обычный микроскоп, за исключением того, что для получения изображения в данном случае применяются электромагнитные волны другого диапазона.

Для получения качественного изображения пучок электронов должен обладать определенной (достаточно большой) энергией. Для разгона электронов применяется электрическое напряжение, которое в устройствах может достигать 50 и 100 КВ.

Разрешение ПЭМ

Теоретически с помощью электронного пучка можно получить достаточно высокое разрешение (поскольку детализация прибора определяется половиной длины волны применяемого излучения). Однако на практике предельные разрешения подобных приборов намного больше. Связано это с рядом технологических трудностей, которые до сих пор не преодолены, в частности, невозможно столь точно изготовить отдельные детали устройства. Кроме того, пучок получается нестабильным из-за нестабильности высокого напряжения.

Улучшение качества ПЭМ

Высокого разрешения удается добиться, если есть дополнительная информация об образце. К примеру, сведения о его периодичности.

ПЭМ, архив по датам

ПЭМ, архив за текущий месяц

November 2024

Полный архив раздела ПЭМ

2008

January

February