12.12.2009 (16:22)
Технология >> Нанотехнология
Проектирование электронных свойств графена вместо их изучения
Ученые из Португалии и США провели дополнительные исследования муара, возникающего при туннельном сканировании наложенных друг на друга под определенным углом листов графена. Доказав, что этому явлению сопутствуют проявления особенностей плотности электронных ...>>
|
|