|
|
микроскопия, архив статей за 11-03-2010
11.03.2010 (23:45)
Естественные науки >> Физика
Подсказка для атомного-силового микроскопа
 Небольшая модификация, предложенная учеными из Тайваня, позволит атомному силовому микроскопу получать изображения столь же высокой точности, как и сканирующим туннельным приборам.В методике сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) для отображения поверхности ...>>
|
|
навигация
Другие дни месяца| March 2010 | | Mn | Tu | We | Th | Fr | Sa | Su | | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | | 8 | 9 | 10 | 11 | 12 | 13 | 14 | | 15 | 16 | 17 | 18 | 19 | 20 | 21 | | 22 | 23 | 24 | 25 | 26 | 27 | 28 | | 29 | 30 | 31 | | | | |
|
|
|
