методика, архив статей за 11-03-2010
|
11.03.2010 (23:45)
Естественные науки >> Физика
Подсказка для атомного-силового микроскопа  Небольшая модификация, предложенная учеными из Тайваня, позволит атомному силовому микроскопу получать изображения столь же высокой точности, как и сканирующим туннельным приборам.В методике сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) для отображения поверхности ...>> |
навигация
| 2009 | February 2010 | 10 March |
| 2010 | March 2010 | 11 March |
| 2011 | April 2010 | 12 March |
Другие дни месяца
| March 2010 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|