микроскоп, архив статей за 19-01-2011
|
19.01.2011 (14:41)
Естественные науки >> Физика
Исследовательская группа из США предложила методику повышения разрешения электронной микроскопии  Ученые из США предложили новый вариант специфического луча электронов для применения в просвечивающем электронном микроскопе (transmission electron microscopy, TEM). Новая вариация прибора позволит наблюдать большее число деталей о наномире благодаря более высокому разрешению ...>> |
навигация
| 2010 | December 2010 | 18 January |
| 2011 | January 2011 | 19 January |
| 2012 | February 2011 | 20 January |
Другие дни месяца
| January 2011 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|