19.01.2011 (14:41)
Естественные науки >> Физика
Исследовательская группа из США предложила методику повышения разрешения электронной микроскопии
 Ученые из США предложили новый вариант специфического луча электронов для применения в просвечивающем электронном микроскопе (transmission electron microscopy, TEM). Новая вариация прибора позволит наблюдать большее число деталей о наномире благодаря более высокому разрешению ...>>
|
14.01.2011 (14:37)
Технология >> Нанотехнология
 Наблюдение атомов на границе листа графена
Электронные свойства наноустройств по факту оказываются зависимы от структур, ...>>
|
